JEOL：推出全新台式扫描电子显微镜“JCM-7000Plus NeoScope™”

JEOL Ltd.（总裁兼首席执行官：Izumi Oi）开发了台式扫描电子显微镜(SEM)“JCM-7000Plus”，并将于2026年9月1日开始销售。

[开发背景]

台式扫描电子显微镜在电气和电子、汽车和机械、钢铁和金属、化学和医药等领域的应用日益广泛。它们不仅用于研发，还用于质量控制和产品检验等与制造相关的应用。此外，它们也被中学、高中和大学等教育机构采用。鉴于这些多样化的应用，市场对提高操作效率、实现更为简易和自动化的操作以及增强观察、分析和测量性能的需求日益增长。

为了满足这些需求，我们将着陆电压（加速电压）扩展到了20 kV。这将分辨率提高到了6 nm，从而能够在更高的放大倍率下进行测量。

在软件方面，新的JCM-7000Plus保留了当前JCM-7000简单、用户友好的GUI，包括能够实现从光学成像到SEM观察无缝过渡的Zeromag，以及允许在观察期间进行实时元素分析的Live Analysis功能。它还增加了增强的自动化功能Neo Action。

除了现有的三个Live功能（Live Analysis、Live Map和Live 3D）之外，我们还增加了两个新功能：Live Particle，可在观察时自动实时测量颗粒尺寸和数量；以及Live Report，可在移动视场时自动获取数据并生成报告，这是高端FE-SEM中的一项功能。这些功能简化了日常任务，使其更加直观和高效，同时有力支撑用户的分析工作流。

[主要特点]

1. 将着陆电压扩展到20 kV，以提高分辨率（二次电子图像：6 nm，背散射电子图像：8 nm）

2. 改进的背散射电子探测器，以增强图像质量

3. 新的Live Particle功能可自动测量颗粒尺寸和数量，从而简化工作流

4. Live Report可在移动视场时进行数据采集和报告创建，从而提高工作效率

5. 保留了简单且用户友好的GUI，并增加了自动化功能，使操作更加直观、简便

[销售目标]

300台/年

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产品信息：JCM-7000Plus NeoScope™台式SEM

 

JCM-7000Plus NeoScope™